microscopio tomografía de rayos X de ZEISS

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Actualice su microscopio con accesorios adicionales como portamuestras, Fantasmas de escaneo CT y filtros de rayos X adicionales para mejorar la capacidad de su Xradia Versa

En el microscopio ZEISS monte con seguridad una amplia gama de tamaños y tipos de muestras eligiendo entre un conjunto de soportes de muestras diseñados por ZEISS. Los porta muestras de ZEISS están diseñados teniendo en cuenta los principios cinemáticos para una colocación precisa y repetible en la platina de la muestra. Cada diseño ofrece técnicas de agarre únicas para acomodar su muestra adecuadamente para la obtención de imágenes. Además, los diseños están probados para la estabilidad de las imágenes de rayos X. Especifique si su soporte es para uso estándar o para ser compatible con el Autoloader.

Personalice su espectro de rayos X para satisfacer las necesidades de su aplicación de imágenes y correlacione sus datos de escala de grises con las unidades Hounsfield adecuadas

Asegúrese de que sus datos están correctamente calibrados con las unidades Hounsfield, en las que el aire y el agua tienen valores de 0 y 100, utilizando el ZEISS CT Scaling Phantom. Amplíe su gama de filtros de baja y alta energía explorando las opciones de filtros adicionales que ofrece ZEISS para requisitos de filtrado de mayor energía y aplicaciones como la metalurgia.

• Calibre sus datos en escala de grises con precisión
• Se beneficia de una reducción de los artefactos de endurecimiento del haz
• Mejora de la transmisión en materiales densos o de mayor tamaño
• Experimente un mayor aumento

Mejore la experiencia del usuario y la profundidad de su flujo de trabajo de análisis utilizando hardware avanzado y software computacional disponible a través de ZEISS.

Estación de trabajo de análisis - Versa

La estación de trabajo secundaria de ZEISS está configurada y probada para la visualización y el rendimiento computacional, así como la fiabilidad del almacenamiento de datos

Con el fin de mantener el tiempo de funcionamiento del instrumento para la obtención de imágenes, muchos prefieren agilizar su flujo de trabajo mediante una estación de trabajo de análisis secundaria. La estación de trabajo secundaria admite estudios adicionales que optimizan la reconstrucción, la navegación y la visualización de los conjuntos de datos, y los resultados del posprocesamiento.

• Maximizar el tiempo de actividad de las imágenes
• Mejora el rendimiento de los resultados
• Admite paquetes de software de visualización y análisis avanzados
• Amplía el almacenamiento de datos de forma fiable

• Explore una multitud de aplicaciones basadas en laboratorio, tipos de muestras y tamaños con ZEISS Xradia 520 Versa. Benefíciese de extender su investigación más allá de los límites de los sistemas de micro y nano-TC basados ​​en proyección básica. Consiga imágenes con una resolución espacial de 0.7 μm y un vóxel alcanzable mínimo de 70 nm. 

• Obtenga imágenes de muestras desafiantes utilizando capacidades de contraste avanzadas como el contraste de absorción mejorado patentado o el contraste de fase de propagación sintonizable. 

• Caracterizar la microestructura tridimensional de los materiales de forma no destructiva. Trabaja de forma exclusiva en condiciones simuladas, in situ, o estudia la evolución de las propiedades de tus muestras a lo largo del tiempo en 4D.