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Microscopio rayos X versa
Soluciones de Tomografía de Rayos X 3D ZEISS
La familia Xradia Versa de XRM submicrónico utiliza detectores de rayos X patentados dentro de la torreta del objetivo del microscopio para permitir una mayor ampliación en varios tipos y tamaños de muestras, y empujar la resolución espacial hasta 500 nm con vóxeles mínimos alcanzables de <40 nm. Nada como un microscopio electrónico desarrollado para ser el mejor.
MICROSCOPIO DE RAYOS X 3D
ZEISS Xradia 510 Versa
ZEISS Xradia 610 y 620 Versa
ZEISS Xradia 510 Versa
Un microscopio superior punto a punto.
Su sistema de captura de imágenes submicrónicas en 3D con una flexibilidad revolucionaria.
Utilice en su microscopio la combinación de resolución y contraste con distancias de trabajo flexibles para ampliar la potencia de la imagen no destructiva en su laboratorio.
ZEISS Xradia 410 Versa
ZEISS Xradia 610 y 620 Versa
ZEISS Xradia 510 Versa
Su solución de trabajo para la obtención de imágenes 3D submicrónicas.
Salva la brecha en la microscopía
Xradia 410 Versa cubre el vacío existente entre los microscopios de rayos X de alto rendimiento y los sistemas de tomografía computarizada (TC) menos potentes.
ZEISS Xradia 610 y 620 Versa
ZEISS Xradia 610 y 620 Versa
ZEISS Xradia 610 y 620 Versa
Microscopio de rayos X 3D para obtener imágenes submicrónicas más rápidas de muestras intactas.
Vaya más allá de la exploración y encuentre los mejores descubrimientos.
ZEISS Xradia 810 Ultra
Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia
ZEISS Xradia 800 Ultra
Microscopio con imágenes de rayos X 3D con calidad de sincrotrón.
el Microscopio XRM le permite ampliar el alcance y el valor de las imágenes no destructivas a nanoescala
Explore con su microscopio ZEISS y llegue a la velocidad de la ciencia.
ZEISS Xradia 800 Ultra
Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia
ZEISS Xradia 800 Ultra
Un microscopio con sistema de obtención de imágenes 3D no destructivas de altísima resolución.
Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia
Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia
Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia
Microscopio de rayos X a nano escala para sincrotrones
Xradia Context microCT
Xradia Context microCT
El microscopio de ZEISS, el Xradia Context es un sistema de microtomografía de rayos X en 3D no destructivo de gran campo de visión con una robusta platina y un posicionamiento flexible de la fuente/detector controlado por software.
Xradia CrystalCT
Xradia CrystalCT
Nuestro microscopio le permite aumentar de forma única la poderosa técnica de la tomografía computarizada con la capacidad de revelar microestructuras de granos cristalinos, transformando la forma de estudiar los materiales policristalinos.
Tomografía
Tomografía computarizada industrial
La tomografía computarizada (TC) industrial le ofrece una visión totalmente nueva al hacer posible la captura del volumen de todas las estructuras internas en muy poco tiempo. ZEISS es pionera en la TC rápida y permite la inspección completa basada en el volumen de los componentes durante el ciclo de producción.
El microscopio de Zeiss le brinda soluciones en tomografía de rayos x muy superiores a las del mercado
Microscopia
Actualizaciones de Xradia Versa
Para una mayor vida útil y funcionalidad ampliada, un microscopio de talla mundial.
BENEFICIOS| XRADIA 520 VERSA
Experimente la Resolución más allá de Micro-CT
Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste
Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste
- Explore una multitud de aplicaciones basadas en laboratorio, tipos de muestras y tamaños con ZEISS Xradia 520 Versa. Benefíciese de extender su investigación más allá de los límites de los sistemas de micro y nano-TC basados en proyección básica. Consiga imágenes con una resolución espacial de 0.7 μm y un vóxel alcanzable mínimo de 70 nm.
Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste
Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste
Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste
- Obtenga imágenes de muestras desafiantes utilizando capacidades de contraste avanzadas como el contraste de absorción mejorado patentado o el contraste de fase de propagación sintonizable.
Caracterizar Materiales In Situ y en 4D
Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste
Caracterizar Materiales In Situ y en 4D
- Caracterizar la microestructura tridimensional de los materiales de forma no destructiva. Trabaja de forma exclusiva en condiciones simuladas, in situ, o estudia la evolución de las propiedades de tus muestras a lo largo del tiempo en 4D.
Software
ORS Dragonfly Pro
Solución de software de análisis y visualización avanzada y fácil de usar para sus datos 3D adquiridos por una variedad de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio
Disponible exclusivamente a través de ZEISS, ORS Dragonfly Pro ofrece un conjunto de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de grandes datos 3D en escala de grises. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos multimedia, incluida la producción de vídeo, de sus datos 3D. Realiza el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.