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microscopio tomografía de rayos X de ZEISS

Microscopía de rayos X 3D de alta resolución y tomografía computarizada

  • Con el microscopio electrónico XRM tendrá el máximo rendimiento.
  • Un microscopio que le permite caracterizar las propiedades y el comportamiento de sus materiales de forma no destructiva.
  • Revele detalles de microestructuras en tres dimensiones (3D) con su microscopio de Carl ZEISS.
  • Desarrolle y confirme modelos o visualice detalles estructurales .
  • Consiga imágenes de alto contraste y resolución submicrométrica incluso para muestras relativamente grandes.

Microscopio rayos X versa

Soluciones de Tomografía de Rayos X 3D ZEISS

La familia Xradia Versa de XRM submicrónico utiliza detectores de rayos X patentados dentro de la torreta del objetivo del microscopio para permitir una mayor ampliación en varios tipos y tamaños de muestras, y empujar la resolución espacial hasta 500 nm con vóxeles mínimos alcanzables de <40 nm. Nada como un microscopio electrónico desarrollado para ser el mejor.

MICROSCOPIO DE RAYOS X 3D

ZEISS Xradia 510 Versa

ZEISS Xradia 610 y 620 Versa

ZEISS Xradia 510 Versa

Un microscopio superior punto a punto.

Su sistema de captura de imágenes submicrónicas en 3D con una flexibilidad revolucionaria.

Utilice  en su microscopio la combinación de resolución y contraste con distancias de trabajo flexibles para ampliar la potencia de la imagen no destructiva en su laboratorio.

Obtén más información

ZEISS Xradia 410 Versa

ZEISS Xradia 610 y 620 Versa

ZEISS Xradia 510 Versa

Su solución de trabajo para la obtención de imágenes 3D submicrónicas.

Salva la brecha en la microscopía 

Xradia 410 Versa cubre el vacío existente entre los microscopios de rayos X de alto rendimiento y los sistemas de tomografía computarizada (TC) menos potentes. 

Obtén más información

ZEISS Xradia 610 y 620 Versa

ZEISS Xradia 610 y 620 Versa

ZEISS Xradia 610 y 620 Versa

Microscopio de rayos X 3D para obtener imágenes submicrónicas más rápidas de muestras intactas.

Vaya más allá de la exploración y encuentre los mejores   descubrimientos.


Obtén más información

Microscopio Xradia Ultra

 La familia de microscopio de rayos X a nano escala Xradia Ultra es el único microscopio de rayos X disponible en el mercado que utiliza una óptica de rayos X de calidad de sincrotrón y proporciona una verdadera resolución espacial de hasta <50 nm y vóxeles mínimos alcanzables de 16nm. 

ZEISS Xradia 810 Ultra

Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia

ZEISS Xradia 800 Ultra

Microscopio con imágenes de rayos X 3D con calidad de sincrotrón.

el Microscopio XRM le permite ampliar el alcance y el valor de las imágenes no destructivas a nanoescala

Explore con su microscopio ZEISS y llegue  a la velocidad de la ciencia.

Obtén más información

ZEISS Xradia 800 Ultra

Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia

ZEISS Xradia 800 Ultra

Un microscopio con sistema de obtención de imágenes 3D no destructivas de altísima resolución.

Obtén más información

Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia

Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia

Familia de Sincrotrones ZEISS Xradia

Microscopio de rayos X a nano escala para sincrotrones

Obtén más información
Xradia Context microCT

Xradia Context microCT

El microscopio de ZEISS, el Xradia Context es un sistema de microtomografía de rayos X en 3D no destructivo de gran campo de visión con una robusta platina y un posicionamiento flexible de la fuente/detector controlado por software.

Xradia CrystalCT

Xradia CrystalCT

Nuestro microscopio le permite aumentar de forma única la poderosa técnica de la tomografía computarizada con la capacidad de revelar microestructuras de granos cristalinos, transformando la forma de estudiar los materiales policristalinos.

tomografía computarizada
Tomografía

Tomografía computarizada industrial

La tomografía computarizada (TC) industrial le ofrece una visión totalmente nueva al hacer posible la captura del volumen de todas las estructuras internas en muy poco tiempo. ZEISS es pionera en la TC rápida y permite la inspección completa basada en el volumen de los componentes durante el ciclo de producción. 

El microscopio de Zeiss le brinda soluciones en tomografía de rayos x muy superiores a las del mercado

Microscopia

Actualizaciones de Xradia Versa

Para una mayor vida útil y funcionalidad ampliada, un microscopio  de talla mundial.

Obtén más información

Resolución a distancia insuperable

¿Quiere ver el interior de una muestra con la máxima resolución sin destruirla? ¿Tiene que hacer un compromiso entre el tamaño de la muestra y la resolución? La tecnología "Resolution at a Distance (RaaD)" de los microscopios de rayos X ZEISS Xradia Versa 3D supera estas limitaciones de los sistemas Micro-CT.

Accesorios

Portamuestras

Portamuestras

Actualice su microscopio con accesorios adicionales como portamuestras, Fantasmas de escaneo CT y filtros de rayos X adicionales para mejorar la capacidad de su Xradia Versa

Portamuestras

Portamuestras

Portamuestras

En el microscopio ZEISS monte con seguridad una amplia gama de tamaños y tipos de muestras eligiendo entre un conjunto de soportes de muestras diseñados por ZEISS. Los porta muestras de ZEISS están diseñados teniendo en cuenta los principios cinemáticos para una colocación precisa y repetible en la platina de la muestra. Cada diseño ofrece técnicas de agarre únicas para acomodar su muestra adecuadamente para la obtención de imágenes. Además, los diseños están probados para la estabilidad de las imágenes de rayos X. Especifique si su soporte es para uso estándar o para ser compatible con el Autoloader.

Beneficios

Portamuestras

Beneficios

  • Soporta técnicas de montaje mecánicas y térmicas estables
  • Fácil intercambio de encendido/apagado
  • Detección automática de presencia (compatible con Autoloader)

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Fantasmas de escala de TC y opciones de filtro

Fantasmas de escala de TC y opciones de filtro

Fantasmas de escala de TC y opciones de filtro

Personalice su espectro de rayos X para satisfacer las necesidades de su aplicación de imágenes y correlacione sus datos de escala de grises con las unidades Hounsfield adecuadas

Asegúrese de que sus datos están correctamente calibrados con las unidades Hounsfield, en las que el aire y el agua tienen valores de 0 y 100, utilizando el ZEISS CT Scaling Phantom. Amplíe su gama de filtros de baja y alta energía explorando las opciones de filtros adicionales que ofrece ZEISS para requisitos de filtrado de mayor energía y aplicaciones como la metalurgia.

Beneficios

Fantasmas de escala de TC y opciones de filtro

Fantasmas de escala de TC y opciones de filtro

  • Calibre sus datos en escala de grises con precisión
  • Se beneficia de una reducción de los artefactos de endurecimiento del haz
  • Mejora de la transmisión en materiales densos o de mayor tamaño
  • Experimente un mayor aumento

Análisis y software

Análisis y software

Análisis y software

Mejore la experiencia del usuario y la profundidad de su flujo de trabajo de análisis utilizando hardware avanzado y software computacional disponible a través de ZEISS.

Estación de trabajo de análisis - Versa

La estación de trabajo secundaria de ZEISS está configurada y probada para la visualización y el rendimiento computacional, así como la fiabilidad del almacenamiento de datos

Con el fin de mantener el tiempo de funcionamiento del instrumento para la obtención de imágenes, muchos prefieren agilizar su flujo de trabajo mediante una estación de trabajo de análisis secundaria. La estación de trabajo secundaria admite estudios adicionales que optimizan la reconstrucción, la navegación y la visualización de los conjuntos de datos, y los resultados del posprocesamiento.

Beneficios

Análisis y software

Análisis y software

  • Maximizar el tiempo de actividad de las imágenes
  • Mejora el rendimiento de los resultados
  • Admite paquetes de software de visualización y análisis avanzados
  • Amplía el almacenamiento de datos de forma fiable

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ZEISS Xradia 520 Versa

 Desbloquee la versatilidad para su descubrimiento científico e investigación industrial con ZEISS Xradia 520 Versa, el modelo más avanzado de la familia Xradia Versa. Imagen de forma no destructiva en 3D con rayos X. Obtenga la mejor resolución y contraste de la industria. Expande los límites de las imágenes no destructivas. Las innovadoras técnicas de contraste y adquisición te liberan para buscar y encontrar lo que nunca antes has visto.

BENEFICIOS| XRADIA 520 VERSA

Experimente la Resolución más allá de Micro-CT

Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste

Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste

sistemas de micro y nano-TC basados ​​en proyección básica

  • Explore una multitud de aplicaciones basadas en laboratorio, tipos de muestras y tamaños con ZEISS Xradia 520 Versa. Benefíciese de extender su investigación más allá de los límites de los sistemas de micro y nano-TC basados ​​en proyección básica. Consiga imágenes con una resolución espacial de 0.7 μm y un vóxel alcanzable mínimo de 70 nm. 

Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste

Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste

Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste

Técnicas Avanzadas de Contraste

  • Obtenga imágenes de muestras desafiantes utilizando capacidades de contraste avanzadas como el contraste de absorción mejorado patentado o el contraste de fase de propagación sintonizable. 

Caracterizar Materiales In Situ y en 4D

Mejore sus Imágenes con Técnicas Avanzadas de Contraste

Caracterizar Materiales In Situ y en 4D

Caracterizar la microestructura tridimensional de los materiales de forma no destructiva

  • Caracterizar la microestructura tridimensional de los materiales de forma no destructiva. Trabaja de forma exclusiva en condiciones simuladas, in situ, o estudia la evolución de las propiedades de tus muestras a lo largo del tiempo en 4D. 

Software

ORS Dragonfly Pro

Solución de software de análisis y visualización avanzada y fácil de usar para sus datos 3D adquiridos por una variedad de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio

Disponible exclusivamente a través de ZEISS, ORS Dragonfly Pro ofrece un conjunto de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de grandes datos 3D en escala de grises. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos multimedia, incluida la producción de vídeo, de sus datos 3D. Realiza el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

Beneficios

  • Renderización de gráficos de alta definición
  • Creación de vídeos 3D enriquecidos
  • Análisis de objetos
  • Segmentación de aprendizaje automático
  • Grabación de macros para flujos de trabajo repetitivos
  • Paquetes de software de personalización de Python

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