El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.

El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.

La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.

Caracterice todas sus muestras con la última tecnología de detección.

Obtenga información topográfica de alta resolución con el ETSE y el detector Inlens para el modo de alto vacío.

Obtenga imágenes nítidas en modo de presión variable con el VPSE o el detector C2D.

Producir imágenes de transmisión de alta resolución con el detector aSTEM.

Investigue la composición y la topografía con el detector aBSD.

Alinear el diafragma de forma rápida y sencilla con el nuevo auto-wobble.

La delicada estructura abierta de un radiolario es captada sin esfuerzo por el detector ETSE a 1 kV bajo alto vacío, ancho de imagen 183 µm.

Esporas de hongos fotografiadas a 1 kV en alto vacío. Estas estructuras delicadas y frágiles se pueden fotografiar fácilmente con Sigma 500 a bajo voltaje.

Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.

Tienen las mismas composiciones químicas, pero diferentes estructuras cristalinas (espectro Raman, derecha). La aragonita (azul) y la vaterita (roja) pueden diferenciarse claramente mediante los espectros Raman.

Muestra de roca fotografiada con el YAG-BSD, que proporciona imágenes a gran velocidad debido al rendimiento en la conducción de la luz del cristal YAG, fotografiado a 20 kV.

Mineral de sulfuro de níquel. Mapa mineralógico EDS.

Mineralogía del hierro: Identificación por Raman de minerales de hierro ((imagen RISE/SEM superpuesta, anchura de la imagen 66 µm).

Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales (espectro Raman, derecha: la hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goethita es azul claro).

Si las imágenes del SEM no son suficientes para obtener una comprensión completa de sus muestras, recurra a la EDS integrada para el microanálisis en el SEM. Adquiera información química elemental resuelta espacialmente con una solución optimizada para aplicaciones de baja tensión.

Optimización para aplicaciones de microanálisis de rutina y detección de rayos X de baja energía de elementos ligeros gracias a la transmisividad superior de la ventana de nitruro de silicio

La interfaz gráfica de usuario guiada por el flujo de trabajo mejora la facilidad de uso y la repetibilidad en entornos multiusuario

El servicio total y el soporte del sistema por parte de un ingeniero de ZEISS le ofrece una ventanilla única para la instalación, el mantenimiento preventivo y la garantía.

Complemente la caracterización de su material y añada imágenes espectroscópicas Raman. Obtenga una huella química de su muestra y amplíe su ZEISS Sigma 300 con la capacidad de obtención de imágenes Raman confocal.

Reconozca la información molecular y cristalográfica

Realice un análisis 3D y correlacione las imágenes SEM, con el mapeo Raman y los datos EDS, si procede

El sistema RISE totalmente integrado le permite aprovechar las ventajas de los mejores sistemas SEM y Raman de su clase.

SmartSEM Touch, un complemento del sistema de operación establecido, es una interfaz de usuario simplificada para entornos multiusuario. Se trata de un manejo sencillo tanto para usuarios experimentados como para principiantes. Dependiendo del entorno del laboratorio, el manejo del SEM puede ser dominio exclusivo de los microscopistas electrónicos expertos. Pero esta situación se ve desafiada por la necesidad muy común de que usuarios no expertos, como estudiantes, aprendices o ingenieros de calidad, también requieran datos del SEM. Sigma 300 y Sigma 300 VP tienen en cuenta ambos requisitos, con opciones de interfaz de usuario que satisfacen las necesidades operativas tanto de microscopistas experimentados como de no microscopistas.

Atlas 5 le facilita la vida: cree imágenes completas multiescala y multimodales con un entorno correlativo centrado en la muestra. Atlas 5 es el potente e intuitivo paquete de hardware y software que amplía la capacidad de su microscopio electrónico de barrido.

Su microscopio electrónico de barrido mide y analiza todo tipo de muestras en 2D: para analizar las superficies de las muestras en 3D, utilice 3DSM, el paquete de software opcional de ZEISS. Obtenga información topográfica reconstruyendo un modelo 3D completo de la superficie de su muestra utilizando las señales de los detectores de retrodispersión.

ZEISS recomienda Dragonfly Pro de Object Research Systems (ORS)

Una solución de software de análisis y visualización avanzada para sus datos 3D adquiridos por una variedad de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio.

Disponible exclusivamente a través de ZEISS, ORS Dragonfly Pro ofrece un conjunto de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de grandes datos 3D en escala de grises. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos multimedia, incluida la producción de vídeo, de sus datos 3D. Realice el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

• El nuevo láser Crossbeam FIB-SEM de ZEISS es una solución de sección transversal específica del sitio que permite un análisis más rápido de fallas y una optimización del proceso. Al integrar un láser de femtosegundos para mayor velocidad, un haz de Ga + para precisión y SEM para imágenes de resolución a nanoescala, el láser Crossbeam FIB-SEM proporciona a los ingenieros  y analistas de fallas la solución de sección transversal más rápida con el mayor rendimiento de imagen, al tiempo que proporciona un daño mínimo a la muestra. 

•  Crossbeam FIB-SEM combina imágenes, fresado y rendimiento analítico para tomografía 3D a nanoescala y preparación de muestras. Proporciona la mayor resolución y rendimiento para validar procesos de semiconductores frontales con tomografía 3D.
• Crossbeam es ideal para cortes transversales, tomografía FIB-SEM, análisis 3D, preparación de muestras TEM y nanopatrones. El concepto de plataforma modular y la arquitectura de software abierta y fácilmente ampliable de esta nano-estación de trabajo 3D permiten el control de procesos de alto rendimiento, la inspección estructural y el análisis de fallas.