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Flujo de trabajo del láser de haz cruzado de ZEISS

¿Cómo mejora el flujo de trabajo de LaserFIB sus estudios ?

 Para los estudios in situ es necesario localizar los ROI en 3D, ablacionar el material mediante una preparación específica y realizar imágenes y análisis en 3D. Añada un láser de femtosegundo a su Crossbeam de ZEISS y benefíciese de una preparación de muestras ultrarrápida. 

Obtén más información

  • Acceda rápidamente a estructuras profundamente enterradas.
  • Prepare secciones transversales extremadamente grandes de hasta milímetros de ancho y profundidad.
  • Benefíciese de un daño mínimo y de zonas afectadas por el calor debido a los pulsos láser ultracortos.
  • Realice el trabajo con láser en una cámara específica para evitar la contaminación de su FIB-SEM.
  • Encuentre sus ROI ocultos mediante la correlación con conjuntos de datos de microscopía de rayos X previamente adquiridos.

ZEISS Sigma

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo

Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada.

Obtén más información

Entre en el mundo del nano análisis fiable y de alta gama.

Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada

ZEISS Sigma 300 ofrece excelencia en precio y rendimiento. Realice sus análisis elementales de forma rápida y cómoda con la mejor geometría EDS de ZEISS Sigma 500. Cuente con resultados precisos y reproducibles, a partir de cualquier muestra y en todo momento.

Detección flexible. Flujo de trabajo en 4 pasos. Analítica avanzada.

Combine la tecnología SEM de emisión de campo (FE-SEM) con la analítica. Benefíciese de la probada óptica de electrones Gemini. Elija entre una variedad de opciones de detectores: visualice partículas, superficies y nanoestructuras en la ciencia de los materiales, investigue dispositivos médicos o de semiconductores, muestras geológicas o biológicas. Ahorre tiempo con el flujo de trabajo semiautomatizado de 4 pasos de Sigma: estructure sus rutinas de imagen y análisis y aumente la productividad. Los usuarios de FE-SEM de todas las disciplinas en los laboratorios de investigación e industriales se benefician ahora de una resolución de 1,3 nm a 1 kV en ZEISS Sigma 500 y de una mayor facilidad de uso.


composición,cristalografía y la topografía de la superficie detector de retrodispersión anular

Detección flexible para imágenes claras

Adapte Sigma a sus necesidades utilizando la última tecnología de detección y caracterice todas sus muestras.

Caracterice la composición, la cristalografía y la topografía de la superficie con el detector de retrodispersión anular (aBSD). Ofrece excelentes imágenes de bajo kV en todas las condiciones de vacío. Benefíciese de una sensibilidad mejorada, una mayor relación señal/ruido y más velocidad.

Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Benefíciese de los detectores C2D y VPSE de Sigma en el modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede esperar imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste.

Automatice y acelere su flujo de trabajo

Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Benefíciese del rápido tiempo de obtención de imágenes y ahorre tiempo de formación, especialmente en un entorno multiusuario.

En primer lugar, navegue por su muestra y establezca las condiciones óptimas de captura de imágenes.

A continuación, adquiera automáticamente imágenes de múltiples muestras utilizando regiones de interés (ROI). Finalmente, utilice el último paso del flujo de trabajo para la visualización contextual de sus resultados.

Finalmente, SmartSEM Touch recoge y presenta sus datos como un mapa interactivo para que pueda entender su muestra completamente.

Realice microscopía analítica avanzada

Combine la microscopía electrónica de barrido y el análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles al haz.

Obtenga datos analíticos con la mitad de corriente de sonda y el doble de velocidad.

Consiga un análisis completo y sin sombras en su FE-SEM. Benefíciese del uso de una corta distancia de trabajo analítico de 8,5 mm y de un ángulo de despegue de 35°.

tecnología

Basado en la probada tecnología Gemini

Detección flexible para obtener imágenes claras

Detección flexible para obtener imágenes claras

El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.

El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.

La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.

Detección flexible para obtener imágenes claras

Detección flexible para obtener imágenes claras

Detección flexible para obtener imágenes claras

Caracterice todas sus muestras con la última tecnología de detección.

Obtenga información topográfica de alta resolución con el ETSE y el detector Inlens para el modo de alto vacío.

Obtenga imágenes nítidas en modo de presión variable con el VPSE o el detector C2D.

Producir imágenes de transmisión de alta resolución con el detector aSTEM.

Investigue la composición y la topografía con el detector aBSD.

Alinear el diafragma de forma rápida y sencilla con el nuevo auto-wobble.

Aplicaciones

Obtén más información

Ciencia de los materiales

Revele un gran detalle de la superficie en la inspección de defectos superficiales de microlentes

Revele un gran detalle de la superficie en la inspección de defectos superficiales de microlentes no conductoras, incluso a 300 V, con el detector ETSE.

Fibras con nanopartículas de plata incrustadas, procedentes de apósitos antimicrobianos

Fibras con nanopartículas de plata incrustadas, procedentes de apósitos antimicrobianos para el cuidado de heridas. 1 kV, izquierda: Inlens Duo SE, derecha: Inlens Duo BSE, ancho de imagen 90 µm

El carbonato de lantano es un aglutinante de fosfatos utilizado como agente

El carbonato de lantano es un aglutinante de fosfatos utilizado como agente terapéutico oral para pacientes en diálisis, con imágenes a 1 kV con Inlens Duo BSE.

Granos de platino que muestran los planos de deslizamiento de los límites

Granos de platino que muestran los planos de deslizamiento de los límites de los granos, fotografiados a 4 kV con detector AsB, anchura de la imagen 69 µm.

Cristales 2D de MoS<sub>2</sub><br /> cultivados mediante CVD sobre un sustrato de Si/SiO2:

Cristales 2D de MoS<sub>2</sub><br /> cultivados mediante CVD sobre un sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales de MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas simples (rojo), ancho de imagen 32 µm.

Mezcla de polímeros de poliestireno (PS) y polimetilmetacrilato (PMMA)

Mezcla de polímeros de poliestireno (PS) y polimetilmetacrilato (PMMA): Estos dos polímeros forman una mezcla inmiscible. Las estructuras de dominio se visualizan claramente donde el PS es azul y el PMMA es rojo, ancho de imagen 288 µm.

Life science

La delicada estructura abierta de un radiolario es captada sin esfuerzo por el detector ETSE a 1 kV bajo alto vacío, ancho de imagen 183 µm.

Esporas de hongos fotografiadas a 1 kV en alto vacío. Estas estructuras delicadas y frágiles se pueden fotografiar fácilmente con Sigma 500 a bajo voltaje.

Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.

Tienen las mismas composiciones químicas, pero diferentes estructuras cristalinas (espectro Raman, derecha). La aragonita (azul) y la vaterita (roja) pueden diferenciarse claramente mediante los espectros Raman.

Geociencias y recursos naturales

Muestra de roca fotografiada con el YAG-BSD, que proporciona imágenes a gran velocidad debido al rendimiento en la conducción de la luz del cristal YAG, fotografiado a 20 kV.

Mineral de sulfuro de níquel. Mapa mineralógico EDS.

Mineralogía del hierro: Identificación por Raman de minerales de hierro ((imagen RISE/SEM superpuesta, anchura de la imagen 66 µm).

Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales (espectro Raman, derecha: la hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goethita es azul claro).

Aplicaciones industriales

Las nanopartículas de dióxido de titanio no conductoras que se utilizan como pigmentos y agentes opacificantes pueden obtenerse fácilmente a 40 Pa en modo VP con el C2D, con un ancho de imagen de 10 µm.

Partículas de óxido de hierro de 25 - 50 nm obtenidas con el detector aSTEM en modo de campo oscuro a 20 kV.

Muestra de aleación superconductora fotografiada a 1 kV con el aBSD. (Barra de escala 20 µm).

Accesorios

SmartEDX Descubra el análisis de espectroscopia de energía dispersiva de rayos X integrado.

Imágenes Raman y microscopía electrónica de barrido -las ventajas de RISE totalmente integradas

Imágenes Raman y microscopía electrónica de barrido -las ventajas de RISE totalmente integradas

Si las imágenes del SEM no son suficientes para obtener una comprensión completa de sus muestras, recurra a la EDS integrada para el microanálisis en el SEM. Adquiera información química elemental resuelta espacialmente con una solución optimizada para aplicaciones de baja tensión.

Optimización para aplicaciones de microanálisis de rutina y detección de rayos X de baja energía de elementos ligeros gracias a la transmisividad superior de la ventana de nitruro de silicio

La interfaz gráfica de usuario guiada por el flujo de trabajo mejora la facilidad de uso y la repetibilidad en entornos multiusuario

El servicio total y el soporte del sistema por parte de un ingeniero de ZEISS le ofrece una ventanilla única para la instalación, el mantenimiento preventivo y la garantía.

Imágenes Raman y microscopía electrónica de barrido -las ventajas de RISE totalmente integradas

Imágenes Raman y microscopía electrónica de barrido -las ventajas de RISE totalmente integradas

Imágenes Raman y microscopía electrónica de barrido -las ventajas de RISE totalmente integradas

Complemente la caracterización de su material y añada imágenes espectroscópicas Raman. Obtenga una huella química de su muestra y amplíe su ZEISS Sigma 300 con la capacidad de obtención de imágenes Raman confocal.

Reconozca la información molecular y cristalográfica

Realice un análisis 3D y correlacione las imágenes SEM, con el mapeo Raman y los datos EDS, si procede

El sistema RISE totalmente integrado le permite aprovechar las ventajas de los mejores sistemas SEM y Raman de su clase.

Software

ZEISS SmartSEM Touch - Más manos en la cubierta

ZEISS SmartSEM Touch - Más manos en la cubierta

ZEISS SmartSEM Touch - Más manos en la cubierta

SmartSEM Touch, un complemento del sistema de operación establecido, es una interfaz de usuario simplificada para entornos multiusuario. Se trata de un manejo sencillo tanto para usuarios experimentados como para principiantes. Dependiendo del entorno del laboratorio, el manejo del SEM puede ser dominio exclusivo de los microscopistas electrónicos expertos. Pero esta situación se ve desafiada por la necesidad muy común de que usuarios no expertos, como estudiantes, aprendices o ingenieros de calidad, también requieran datos del SEM. Sigma 300 y Sigma 300 VP tienen en cuenta ambos requisitos, con opciones de interfaz de usuario que satisfacen las necesidades operativas tanto de microscopistas experimentados como de no microscopistas.

ZEISS Atlas 5 - Domine su desafío multiescala

ZEISS SmartSEM Touch - Más manos en la cubierta

ZEISS SmartSEM Touch - Más manos en la cubierta

Atlas 5 le facilita la vida: cree imágenes completas multiescala y multimodales con un entorno correlativo centrado en la muestra. Atlas 5 es el potente e intuitivo paquete de hardware y software que amplía la capacidad de su microscopio electrónico de barrido.

Modelado de superficies en 3D - 3DSM

Modelado de superficies en 3D - 3DSM

Modelado de superficies en 3D - 3DSM

Su microscopio electrónico de barrido mide y analiza todo tipo de muestras en 2D: para analizar las superficies de las muestras en 3D, utilice 3DSM, el paquete de software opcional de ZEISS. Obtenga información topográfica reconstruyendo un modelo 3D completo de la superficie de su muestra utilizando las señales de los detectores de retrodispersión.

Software de visualización y análisis

Modelado de superficies en 3D - 3DSM

Modelado de superficies en 3D - 3DSM

ZEISS recomienda Dragonfly Pro de Object Research Systems (ORS)

Una solución de software de análisis y visualización avanzada para sus datos 3D adquiridos por una variedad de tecnologías, incluyendo rayos X, FIB-SEM, SEM y microscopía de iones de helio.


Disponible exclusivamente a través de ZEISS, ORS Dragonfly Pro ofrece un conjunto de herramientas intuitivo, completo y personalizable para la visualización y el análisis de grandes datos 3D en escala de grises. Dragonfly Pro permite la navegación, la anotación y la creación de archivos multimedia, incluida la producción de vídeo, de sus datos 3D. Realice el procesamiento de imágenes, la segmentación y el análisis de objetos para cuantificar sus resultados.

Descargas

EN_42_012_243_Sigma_Raman (pdf)Descargar
EN_aftersales-flyer_ORS-Dragonfly-Pro_rel.1.0 (pdf)Descargar
EN_product-flyer_Sigma_A4 (pdf)Descargar
EN_product-info_Sigma_Family_rel-2.5 (1) (pdf)Descargar
EN_product-info_Sigma_Family_rel-2.5 (pdf)Descargar
EN_product-information_SmartEDX_1-1 (pdf)Descargar
EN_solutions-brochure_3D-imaging-systems (pdf)Descargar
EN_wp_AQM-and-LA-ICP-MS (pdf)Descargar
EN_wp_Cathodoluminescence_Geological_Samples_Fluorite_Veins (pdf)Descargar
EN_wp_Sigma-300_EBSD_Soft_Magnetic_Composites (pdf)Descargar

Familia ZEISS Crossbeam FIB-SEM

ZEISS  potente rendimiento analítico y de imagen de microscopio electrónico de barrido

El Crossbeam de ZEISS combina la potente imagen y el rendimiento analítico rendimiento de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con la capacidad de procesamiento superior de un haz de iones enfocados (FIB) de última generación (FIB).

Crossbeam le da a su trabajo en 3D esa ventaja dinámica, tanto si está fresando imágenes o realizando análisis en 3D. Extraiga información real de la muestra de sus imágenes de SEM utilizando la óptica de electrones Gemini. La columna Ion-sculptor FIB introduce una forma totalmente nueva de procesamiento FIB. Al minimizar el daño a la muestra, usted maximizar la calidad de la muestra y, al mismo tiempo, realizar los experimentos con mayor rapidez.

Visión general

Información adicional

La estación de trabajo Crossbeam de ZEISS establece el estándar de capacidad de procesamiento de imágenes y haces de iones. La combinación del diseño óptico de electrones GEMINI de ZEISS y la columna Ion Sculptor FIB de ZEISS permite a los técnicos e investigadores por igual superar los límites de su trabajo. El Crossbeam ofrece imágenes SEM subnormales, muestras TEM ultra finas para la caracterización STEM y TEM, y los mejores resultados de reconstrucción 3D de su clase. Ya sea que sus requerimientos sean en semiconductores para análisis de fallas, industria, investigación académica y gubernamental, la versatilidad del Crossbeam abordará todos sus requerimientos, y más. Aproveche el concepto de plataforma modular de ZEISS Crossbeam y actualice su sistema con las necesidades crecientes, por ejemplo, con el LaserFIB para la ablación masiva de materiales.  Crossbeam se dirige y supera en las siguientes aplicaciones: 

  • Preparación de muestras TEM 
  • Caracterización de secciones transversales
  •  Prototipos precisos/Modificación de dispositivos
  •  Ablación masiva de material con la FIB láser de ZEISS 
  • Reconstrucción 3D 
  • EDS 3D
  • EBSD 3D
  •  Integración de TOF SIMS 

Microscopios electrónicos de barrido de haz de iones enfocados, análisis e imágenes 3D

NUEVO - Crossbeam Laser FIB-SEM

NUEVO - Crossbeam Laser FIB-SEM

NUEVO - Crossbeam Laser FIB-SEM

  • El nuevo láser Crossbeam FIB-SEM de ZEISS es una solución de sección transversal específica del sitio que permite un análisis más rápido de fallas y una optimización del proceso. Al integrar un láser de femtosegundos para mayor velocidad, un haz de Ga + para precisión y SEM para imágenes de resolución a nanoescala, el láser Crossbeam FIB-SEM proporciona a los ingenieros  y analistas de fallas la solución de sección transversal más rápida con el mayor rendimiento de imagen, al tiempo que proporciona un daño mínimo a la muestra. 

Crossbeam FIB-SEM

NUEVO - Crossbeam Laser FIB-SEM

NUEVO - Crossbeam Laser FIB-SEM

  •  Crossbeam FIB-SEM combina imágenes, fresado y rendimiento analítico para tomografía 3D a nanoescala y preparación de muestras. Proporciona la mayor resolución y rendimiento para validar procesos de semiconductores frontales con tomografía 3D.
  • Crossbeam es ideal para cortes transversales, tomografía FIB-SEM, análisis 3D, preparación de muestras TEM y nanopatrones. El concepto de plataforma modular y la arquitectura de software abierta y fácilmente ampliable de esta nano-estación de trabajo 3D permiten el control de procesos de alto rendimiento, la inspección estructural y el análisis de fallas.

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