Microscopía de fuerza atómica

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Imagen de Nanoescala de vanguardia en medios acuosos

El microscopio Park NX10 de análisis de barrido por conductancia iónica (scanning ion conductance microscopy o SICM) permite a los investigadores adquirir medidas exactas de muestras en medios acuosos. Estudios electroquímicos utilizando SICM ahora se puede compatibilizar investigación de mecanismos de reacción relacionados con la química redox y otros fenómenos con la capacidad de mapear la topografía de su muestra. La correlación de estos conjuntos de datos tiene enormes implicaciones para aplicaciones tales como el desarrollo de baterías de nueva generación donde SICM puede medir el rendimiento de una batería frente a su degradación en la nanoescala. El Park NX10 SICM también puede ser de gran beneficio para el trabajo en biología celular. A diferencia de AFM, el SICM no aplica ninguna fuerza sobre las muestras, lo que significa que los biólogos celulares pueden estudiar las células vivas sin molestarlas, abriendo nuevas puertas de investigación sobre cómo funcionan estas unidades de vida. El módulo Park NX10 SICM también se puede comprar como una opción para su Park NX10 AFM, lo que permite una fácil transición entre las dos técnicas, la creación de una herramienta aún más amplia para el análisis de muestras

Tres atractivas Microscopías de nano escala en una innovadora plataforma

Entendemos que un investigador de Biología de nano escala, necesita herramientas versátiles, de gran alcance para hacer investigación innovadora eficientemente. Es por eso que hemos creado el Park NX-Bio, que combina microscopía de barrido por conductancia iónica (SICM), un microscopio de fuerzas atómicas True Non-Contact Mode™ (AFM) y un microscopio óptico invertido para obtener una potente imagen.

El AFM más innovador para la revisión automatizada de defectos y medición de la rugosidad de superficie

La identificación de defectos de nano escala es un proceso muy largo y tedioso para los ingenieros que trabajan con medios y substratos planos. El Park NX-HDM es un sistema de microscopía de fuerza atómica que acelera el proceso de revisión de defectos por un orden de magnitud mediante la identificación, exploración y análisis automatizado del defecto. El Park NX-HDM se enlaza directamente con una amplia gama de herramientas de inspección óptica, aumentando significativamente el rendimiento de la revisión automática de defectos.

AFM totalmente automatizado para la metrología precisa en línea de agujas en cabezales de discos duros

El Park NX-PTR completamente automáticos en línea es un AFM de solución industrial, orientado, no limitado a, medidas automáticas de la retracción de la aguja lectora, nivel de agujas, y nivel de agujas de HGA. Con escala de precisión sub-nano, repetibilidad y rendimiento, el Park NX-PTR es la herramienta de metrología de elección para los fabricantes de cabezales de HD para mejorar su rendimiento global y producción.

 Perfilador de fuerza atómica de bajo ruido y alto rendimiento con revisión automática de defectos

El Park NX-Wafer es el único AFM para fabricantes de obleas con revisión automática de defectos. Esto le da el poder de aumentar el rendimiento de su laboratorio hasta un 1000% al tiempo que garantiza un alto nivel de precisión y control de calidad al escanear las obleas de hasta 300 mm de tamaño.

Innovación y eficiencia para la metrología 3D

Park Systems presentó la revolucionaria serie de Park 3DM, el sistema de AFM completamente automatizado diseñado para medidas de perfiles de imagen de alta resolución de paredes en escalones y mediciones de ángulo crítico. Con el sistema de exploración desacoplado XY y sistema de exploración Z con analizador Z inclinado, se superan los retos de los métodos normal e inclinado para análisis de paredes en escalones. Utilizando nuestro True Non-Contact Mode™, la serie Park 3DM permite mediciones no destructivas de fotoresistencia de superficies suaves empleando puntas con alta relación de aspecto.

•  Los AFM de Park le permite recopilar una amplia variedad de tipos de datos a través de sus diferentes modos de escaneo. Desde el único modo sin contacto True Non-Contact™ que preserva la nitidez de la punta y la integridad de la muestra, hasta la microscopía de fuerza magnética avanzada, Park ofrece los modos más innovadores y precisos en la industria de AFM. 

•  SmartScan Auto  realiza todas las operaciones necesarias para la creación de imágenes y decide de forma inteligente la calidad de imagen y la velocidad de escaneo óptimas, todo de forma autónoma. SmartScan Auto es posible gracias a las tecnologías patentadas de Park. Eso le ahorra tiempo, dinero y  le brinda un mejor resultado final. los microscopios de Park le darán un salto de calidad a su investigación o análisis. 

• Park NX10 SICM Module es un microscopio electrónico proporciona imágenes a nanoescala para una amplia gama de aplicaciones, Biología Celular, Química Analítica, Electrofisiología, Neurociencia. 

•  Park NX10 es un microscopio electrónico que produce datos confiables, permite replicar y publicar a la resolución nano más alta. Cuenta con el único AFM sin contacto  True Non-Contact™  del mundo que prolonga la vida útil de la punta al tiempo que conserva su muestra.
• Cuenta con el  escáner X Y y Z independiente para una precisión y resolución sin igual.