Microscopia correlativa

Conectando el Micro y Nano mundo en Análisis de Materiales

Shuttle & Find de Carl Zeiss es una interfaz de microscopía correlativa para microscopios ópticos y electrónicos diseñada específicamente para el análisis de materiales. Una solución combinada de hardware y software, que le permite transferir su muestra de un sistema de microscopio a otro en cuestión de minutos – un proceso que hasta ahora ha tomado horas, o incluso días.
Shuttle & Find es un sistema bidireccional extremadamente flexible que le permite combinar cualquier sistema Carl Zeiss para la microscopía correlativa. También admite pasos de preparación intermedios, asegurando que su muestra esté preparada de forma óptima para el uso cuando cambie de un sistema a otro. Es importante destacar que para el análisis de materiales, Shuttle & Find acelera el flujo de trabajo al automatizar el proceso de búsqueda en la misma región de interés. Esto reduce los tiempos de ciclo, lo que le permite procesar un número considerablemente mayor de muestras en un período más corto.

Rápida Correlación de regiones de Interés. Adquirir una imagen en su microscopio de luz y marcar las regiones de interés (ROI). El ROI se guarda junto con la imagen de la muestra. En su microscopio electrónico puede recargar y reubicar fácilmente el ROI mediante la calibración automática y las rutinas de trabajo.
Más información. Combine técnicas de contraste óptico e información sobre el tamaño, la morfología y color obtenido por su microscopio de luz con los métodos analíticos de su microscopio electrónico. Descubra información sobre la estructura y la función de su muestra.
Únicos en el mercado. Como el único fabricante mundial de microscopios de luz y de electrones en todas las gamas, Carl Zeiss – MN Technologies es el más adecuado para unir los micro y nano mundos. MN Technologies es su tienda única para microscopios de luz, microscopios electrónicos y el puente entre ambos.

Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) escanean una muestra con un haz de electrones enfocado y entregan imágenes con información sobre la topografía y la composición de las muestras. Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopia electrónica de barrido de alto rendimiento (microscopios con fuentes de emisión termoiónica LaB6 y W) con una experiencia intuitiva y fácil de usar que atrae tanto a los microscopistas entrenados como a los nuevos usuarios. Con su amplia gama de opciones disponibles, EVO se puede adaptar a sus necesidades, ya sea en ciencias de la vida, ciencia de los materiales o análisis de fallas y aseguramiento de la calidad industrial de rutina.

Zeiss y MNT traen la nueva generación de su probado microscopio electrónico de barrido (SEM) de alto rendimiento: los nuevos instrumentos de la familia ZEISS EVO vienen con una variedad de mejoras en cuanto a usabilidad, calidad de imagen e integración perfecta en flujos de trabajo multimodales. Con su amplia gama de opciones disponibles, la familia ZEISS EVO se puede adaptar con precisión a los requisitos de las ciencias de la vida, las ciencias de los materiales o el control de calidad industrial de rutina.

ZEISS EVO ofrece los mejores datos de su clase y de alta calidad, incluso con requisitos difíciles, por ejemplo, si las piezas no conductoras deben permanecer inalteradas para pasar de un instrumento a otro en el curso de una investigación sobre control de calidad industrial, o si las muestras deben ser fotografiadas en su estado hidratado natural, por ejemplo, para la clasificación del polen. Para estos requisitos, ZEISS EVO ofrece varios modos de vacío, como alto vacío, presión variable y alta presión, así como diferentes tecnologías de detección (SE, C2D, C2DX, BSE, EDS). Un emisor de hexaboruro de lantano (LaB6) opcional ofrece más brillo de haz para una resolución de imagen superior y reducción de ruido.

SmartSEM Touch pone el control del flujo de trabajo interactivo directamente a su alcance. Es rápido y fácil de aprender, lo que reduce drásticamente el esfuerzo y los costos de capacitación. En cuestión de minutos, incluso los nuevos usuarios comenzarán a capturar imágenes asombrosas. Esta interfaz de usuario también es compatible con los operadores industriales que requieren flujos de trabajo automatizados para tareas de inspección repetibles.

EVO se destaca por extraer la máxima calidad de datos de muestras no recubiertas ni alteradas. EVO también protege la calidad de los datos en muestras hidratadas y muy contaminadas, al permitir que estas muestras permanezcan en su estado original. Además, el emisor LaB6 proporcionará ese bit adicional de resolución, contraste y relación señal-ruido que es importante cuando las imágenes y el microanálisis se vuelven desafiantes.

EVO se puede configurar para ser parte de un flujo de trabajo multimodal semiautomático, con herramientas para la reubicación perfecta de las regiones de interés y la integridad de los datos recopilados de múltiples modalidades. Combine datos de microscopios ópticos y electrónicos para la caracterización de materiales o la inspección de piezas. O combine EVO con microscopios ópticos ZEISS para un análisis de partículas correlativo.