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Microscopía de rayos X 3D para obtener imágenes submicronicas más rápidas de muestras intactas.

Vaya más allá de la exploración para lograr sus momentos de descubrimiento.

Desbloquee nuevos grados de versatilidad para su investigación científica e industrial con los modelos de microscopio de rayos X 3D más avanzados de la familia ZEISS Xradia Versa.

Basándose en la mejor resolución y contraste de la industria, ZEISS Xradia 610 y 620 Versa amplían los límites de sus imágenes no destructivas a escala submicrónica.

Destacados

Ampliación de los límites de las soluciones de micro y nano-TC

Microscopía no destructiva a escala submicrónica de muestras intactas

Mayor flujo y escaneos más rápidos sin comprometer la resolución

Resolución espacial real de 500 nm con un tamaño de vóxel mínimo alcanzable de 40 nm

Alta resolución en una amplia gama de tipos de muestras, tamaños y distancias de trabajo

Imágenes in situ para la caracterización no destructiva de microestructuras en entornos controlados y a lo largo del tiempo

Actualizable y ampliable con futuras innovaciones y desarrollos

Rendimiento con calidad de imagen

Máxima resolución y flujo

Mientras que la tomografía tradicional se basa en un aumento geométrico de una sola etapa, Xradia Versa presenta una combinación de ópticas de aumento de dos etapas únicas y una fuente de rayos X de alto flujo para producir imágenes de resolución a escala submicrométrica más rápidas. La arquitectura de resolución a distancia (RaaD) permite obtener imágenes 3D de alta resolución de objetos más grandes y densos, incluidos componentes y dispositivos intactos. La extensión de panel plano (FPX) opcional permite realizar exploraciones rápidas de muestras muy grandes (hasta 25 kg), permitiendo la navegación hacia las regiones interiores de interés.

Nuevos grados de libertad

Utilice la solución de imágenes de rayos X 3D más completa del sector para la investigación científica e industrial avanzada: Maximice la absorción y el contraste de fase para lograr una caracterización sin precedentes de sus materiales y sus propiedades. Desbloquee la información cristalográfica en 3D con la tomografía de contraste de difracción. Mejore la velocidad de exploración y la precisión de las muestras grandes o irregulares con técnicas de adquisición avanzadas. Aplicar algoritmos de aprendizaje automático para ayudar en el posprocesamiento y la segmentación de sus muestras.

Solución Premier 4D / In Situ

ZEISS Xradia 600 Series Versa puede caracterizar de forma no destructiva la microestructura 3D de los materiales bajo perturbaciones controladas (in situ), y observar la evolución de las estructuras en el tiempo (4D). Aprovechando la resolución a distancia, el Xradia Versa mantiene la más alta resolución a través de grandes distancias de trabajo, acomodando tanto la muestra como la cámara ambiental y los equipos de carga in situ de alta precisión sin sacrificar la resolución. El Versa se integra perfectamente con otros microscopios de ZEISS para resolver los desafíos de la imagen correlativa multiescala.