PRECISIÓN QUE REVELA LO INVISIBLE
Sobre Park Systems
Park Systems ha sido el líder innovador en microscopía de nanoescala y metrología a lo largo de su larga historia y continúa invirtiendo en el desarrollo de nuevas tecnologías emergentes, habiendo desempeñado un papel fundamental en el desarrollo de la tecnología de AFM.
Desde nuestras sedes en Corea, Estados Unidos, Japón y Singapur, creamos algunos de los AFM más precisos y eficaces del mundo para la investigación y la industria. Nuestro equipo humano se esmera constantemente en seguir las necesidades de los científicos e ingenieros en todo el mundo. En un mercado global y en crecimiento constante como el de la microscopía, continuaremos innovando y desarrollando nuevos sistemas y características que sigan haciendo a nuestros productos la más eficaz y eficiente microscopía de nanoescala existente.
Productos
Park Systems crea la línea más exacta de la industria de microscopía en nanoescala y herramientas de metrología para investigación y aplicaciones industriales. Nuestras características innovadoras, tales como modo de True-Non Contact™ y automatización avanzada, ponen a nuestros productos en un nivel muy lejos de la competencia y hace que los AFM de Park Systems sean los AFM más fáciles de usar y más avanzados.
Tecnología metrológica y microscopia de nano escala
Park Systems desarrolla para ayudar a la ciencia y la industria proporcionándoles las herramientas de nanoescala más exactas y fáciles de usar. Por esto confía en MNT para acercar sus mejores soluciones a todo el entorno científico Colombiano.
Park Systems Clientes y sus aplicaciones
Los productos de Park Systems son utilizados por algunos de los más notables investigadores y corporaciones en todo el mundo. Nos esforzamos por satisfacer las necesidades de nuestros clientes, trabajando constantemente para crear la tecnología de microscopía de nanoescala más precisa y fácil de usar.
AFM Generales
Aplicaciones
Park Systems ofrece una gama amplia de AFM para la investigación general y aplicaciones industriales. Diseñados para ser extremadamente versátiles, a la vez que proporcionar la precisión y funcionalidad necesaria para realizar trabajos de alta calidad, nuestra línea de AFM generales ofrece por igual a los investigadores e ingenieros la capacidad de tener resultados extremadamente precisos rápida y fácilmente .
- Ciencia biológica
- Ciencia de los Materiales
- Análisis de fallos (A.F.)
- Análisis Semiconductores
- Análisis de dispositivos de disco duro
microscopios de fuerza atómica
AFM de verdadero nivel de investigación para un presupuesto práctico .
El Park XE7 es uno de los AFM a nivel de investigación más asequible disponibles, tanto en términos de precio inicial como de costo total de propiedad. Esto lo hace perfecto para departamentos que necesitan una potente investigación AFM o herramienta de enseñanza, pero están con un presupuesto limitado. Cuenta con modo True Non-Contact™ de Park, así que usted puede ahorrar dinero en puntas de prueba. Está construído para durar y es altamente actualizable, así que usted podrá usarlo en su laboratorio mucho más tiempo que muchos AFM de la competencia.
El AFM de Investigación más preciso y de más fácil uso del mundo
En Park Systems, entendemos que en el mundo altamente competitivo de hoy, los investigadores no pueden permitirse tener que preocuparse por la precisión de sus instrumentos. Esa es la razón por la cual desarrollamos el Park NX10, el AFM más preciso y fácil de usar del mundo.
Potencia, versatilidad y facilidad de uso, brillantemente combinados en un AFM para muestras grandes
Investigadores en genera de la industria, así como ingenieros de A. F. (Análisis de Fallos) tienen la responsabilidad de generar resultados. No hay lugar para el error en los datos aportados por sus instrumentos. Por eso el Park NX20, con su reputación como el AFM de muestra grande más exacto del mundo, es altamente valorado por los investigadores y profesionales A. F. en el mundo.
Potencia, versatilidad, facilidad de uso, brillantemente combinados para un AFM de muestra grande económico
El Park XE15 incluye muchas funcionalidades únicas que lo hacen ideal para laboratorios y centros que procesan un gran volumen de investigación y necesitan un AFM que pueda manejar una amplia gama de muestras. Su precio razonable y sólido conjunto de características también lo hacen uno de los AFM con mejor valor disponibles.
El AFM de alto vacío más avanzado para análisis de fallos e investigación de materiales sensibles
El Park NX-Hivac es un AFM avanzado de alto vacío, diseñado para proporcionar alto rendimiento y precisión para el análisis de fallos en semiconductores altamente dopados. Usando tecnología de la firma Park, el Park NX-Hivac es un AFM de verdadero vacío que puede proporcionar mediciones de alta resolución, bajo nivel de ruido e imágenes que son repetibles y fáciles de adquirir. Esto lo hace ideal para laboratorios que buscan aumentar su rendimiento y precisión.
Bio AFM y SICM
La investigación biológica es uno de los campos de más rápido crecimiento del siglo XXI. Los AFM de Park han desempeñado papeles críticos en este sector, dando a los investigadores las herramientas necesarias para desarrollar nuevas ideas en los vastos y complicados procesos y estructuras de la biología.
Park NX10 SICM
Park NX BIO
Imagen de Nanoescala de vanguardia en medios acuosos
El microscopio Park NX10 de análisis de barrido por conductancia iónica (scanning ion conductance microscopy o SICM) permite a los investigadores adquirir medidas exactas de muestras en medios acuosos. Estudios electroquímicos utilizando SICM ahora se puede compatibilizar investigación de mecanismos de reacción relacionados con la química redox y otros fenómenos con la capacidad de mapear la topografía de su muestra. La correlación de estos conjuntos de datos tiene enormes implicaciones para aplicaciones tales como el desarrollo de baterías de nueva generación donde SICM puede medir el rendimiento de una batería frente a su degradación en la nanoescala. El Park NX10 SICM también puede ser de gran beneficio para el trabajo en biología celular. A diferencia de AFM, el SICM no aplica ninguna fuerza sobre las muestras, lo que significa que los biólogos celulares pueden estudiar las células vivas sin molestarlas, abriendo nuevas puertas de investigación sobre cómo funcionan estas unidades de vida. El módulo Park NX10 SICM también se puede comprar como una opción para su Park NX10 AFM, lo que permite una fácil transición entre las dos técnicas, la creación de una herramienta aún más amplia para el análisis de muestras
Tres atractivas Microscopías de nano escala en una innovadora plataforma
Entendemos que un investigador de Biología de nano escala, necesita herramientas versátiles, de gran alcance para hacer investigación innovadora eficientemente. Es por eso que hemos creado el Park NX-Bio, que combina microscopía de barrido por conductancia iónica (SICM), un microscopio de fuerzas atómicas True Non-Contact Mode™ (AFM) y un microscopio óptico invertido para obtener una potente imagen.
medida que aumenta la demanda de metrología de fuerza atómica para pantallas planas de mayor tamaño, el cabezal de escaneo de puntas Park NX supera los retos de la nano metrología para muestras de más de 300 mm. El cabezal de escaneo de puntas y la platina con soporte de aire tipo pórtico permiten a Park NX-TSH realizar mediciones precisas de la rugosidad, de la altura de los escalones y de las dimensiones críticas.
Microscopía para la industria
AFM industriales
Aplicaciones
Park Systems está dedicado no sólo al avance de la investigación, sino también de la industria. Por eso nuestros diseñadores han trabajado para construir una línea de AFMS más eficaces para los ingenieros de A. F. y aplicaciones industriales. Permitiendo a los usuarios tomar medidas altamente precisas y completar su trabajo más rápidamente. Estas herramientas pueden mejorar la eficiencia en el trabajo y reducir los errores, llevando a un proceso de desarrollo y producción más rentable y consistente. Park Systems ofrece una gama amplia de AFM para la investigación general y aplicaciones industriales. Diseñados para ser extremadamente versátiles, a la vez que proporcionar la precisión y funcionalidad necesaria para realizar trabajos de alta calidad, nuestra línea de AFM generales ofrece por igual a los investigadores e ingenieros la capacidad de tener resultados extremadamente precisos rápida y fácilmente .
- Análisis de fallos
- Análisis de semiconductores
- Análisis de discos duros
El AFM más innovador para la revisión automatizada de defectos y medición de la rugosidad de superficie
La identificación de defectos de nano escala es un proceso muy largo y tedioso para los ingenieros que trabajan con medios y substratos planos. El Park NX-HDM es un sistema de microscopía de fuerza atómica que acelera el proceso de revisión de defectos por un orden de magnitud mediante la identificación, exploración y análisis automatizado del defecto. El Park NX-HDM se enlaza directamente con una amplia gama de herramientas de inspección óptica, aumentando significativamente el rendimiento de la revisión automática de defectos.
AFM totalmente automatizado para la metrología precisa en línea de agujas en cabezales de discos duros
El Park NX-PTR completamente automáticos en línea es un AFM de solución industrial, orientado, no limitado a, medidas automáticas de la retracción de la aguja lectora, nivel de agujas, y nivel de agujas de HGA. Con escala de precisión sub-nano, repetibilidad y rendimiento, el Park NX-PTR es la herramienta de metrología de elección para los fabricantes de cabezales de HD para mejorar su rendimiento global y producción.
Perfilador de fuerza atómica de bajo ruido y alto rendimiento con revisión automática de defectos
El Park NX-Wafer es el único AFM para fabricantes de obleas con revisión automática de defectos. Esto le da el poder de aumentar el rendimiento de su laboratorio hasta un 1000% al tiempo que garantiza un alto nivel de precisión y control de calidad al escanear las obleas de hasta 300 mm de tamaño.
Innovación y eficiencia para la metrología 3D
Park Systems presentó la revolucionaria serie de Park 3DM, el sistema de AFM completamente automatizado diseñado para medidas de perfiles de imagen de alta resolución de paredes en escalones y mediciones de ángulo crítico. Con el sistema de exploración desacoplado XY y sistema de exploración Z con analizador Z inclinado, se superan los retos de los métodos normal e inclinado para análisis de paredes en escalones. Utilizando nuestro True Non-Contact Mode™, la serie Park 3DM permite mediciones no destructivas de fotoresistencia de superficies suaves empleando puntas con alta relación de aspecto.