MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA
Investigación AFM
Descubra la gama completa de microscopios de fuerza atómica de Park Systems, diseñados para la investigación científica y de ingeniería.
AFM Generales
Aplicaciones
Park Systems ofrece una gama amplia de AFM para la investigación general y aplicaciones industriales. Diseñados para ser extremadamente versátiles, a la vez que proporcionar la precisión y funcionalidad necesaria para realizar trabajos de alta calidad, nuestra línea de AFM generales ofrece por igual a los investigadores e ingenieros la capacidad de tener resultados extremadamente precisos rápida y fácilmente .
- Ciencia biológica
- Ciencia de los Materiales
- Análisis de fallos (A.F.)
- Análisis Semiconductores
- Análisis de dispositivos de disco duro
microscopios de fuerza atómica
AFM de verdadero nivel de investigación para un presupuesto práctico .
El Park XE7 es uno de los AFM a nivel de investigación más asequible disponibles, tanto en términos de precio inicial como de costo total de propiedad. Esto lo hace perfecto para departamentos que necesitan una potente investigación AFM o herramienta de enseñanza, pero están con un presupuesto limitado. Cuenta con modo True Non-Contact™ de Park, así que usted puede ahorrar dinero en puntas de prueba. Está construído para durar y es altamente actualizable, así que usted podrá usarlo en su laboratorio mucho más tiempo que muchos AFM de la competencia.
El AFM de Investigación más preciso y de más fácil uso del mundo
En Park Systems, entendemos que en el mundo altamente competitivo de hoy, los investigadores no pueden permitirse tener que preocuparse por la precisión de sus instrumentos. Esa es la razón por la cual desarrollamos el Park NX10, el AFM más preciso y fácil de usar del mundo.
Potencia, versatilidad y facilidad de uso, brillantemente combinados en un AFM para muestras grandes
Investigadores en genera de la industria, así como ingenieros de A. F. (Análisis de Fallos) tienen la responsabilidad de generar resultados. No hay lugar para el error en los datos aportados por sus instrumentos. Por eso el Park NX20, con su reputación como el AFM de muestra grande más exacto del mundo, es altamente valorado por los investigadores y profesionales A. F. en el mundo.
Potencia, versatilidad, facilidad de uso, brillantemente combinados para un AFM de muestra grande económico
El Park XE15 incluye muchas funcionalidades únicas que lo hacen ideal para laboratorios y centros que procesan un gran volumen de investigación y necesitan un AFM que pueda manejar una amplia gama de muestras. Su precio razonable y sólido conjunto de características también lo hacen uno de los AFM con mejor valor disponibles.
El AFM de alto vacío más avanzado para análisis de fallos e investigación de materiales sensibles
El Park NX-Hivac es un AFM avanzado de alto vacío, diseñado para proporcionar alto rendimiento y precisión para el análisis de fallos en semiconductores altamente dopados. Usando tecnología de la firma Park, el Park NX-Hivac es un AFM de verdadero vacío que puede proporcionar mediciones de alta resolución, bajo nivel de ruido e imágenes que son repetibles y fáciles de adquirir. Esto lo hace ideal para laboratorios que buscan aumentar su rendimiento y precisión.
Bio AFM y SICM
La investigación biológica es uno de los campos de más rápido crecimiento del siglo XXI. Los AFM de Park han desempeñado papeles críticos en este sector, dando a los investigadores las herramientas necesarias para desarrollar nuevas ideas en los vastos y complicados procesos y estructuras de la biología.
Park NX10 SICM
Park NX BIO
Imagen de Nanoescala de vanguardia en medios acuosos
El microscopio Park NX10 de análisis de barrido por conductancia iónica (scanning ion conductance microscopy o SICM) permite a los investigadores adquirir medidas exactas de muestras en medios acuosos. Estudios electroquímicos utilizando SICM ahora se puede compatibilizar investigación de mecanismos de reacción relacionados con la química redox y otros fenómenos con la capacidad de mapear la topografía de su muestra. La correlación de estos conjuntos de datos tiene enormes implicaciones para aplicaciones tales como el desarrollo de baterías de nueva generación donde SICM puede medir el rendimiento de una batería frente a su degradación en la nanoescala. El Park NX10 SICM también puede ser de gran beneficio para el trabajo en biología celular. A diferencia de AFM, el SICM no aplica ninguna fuerza sobre las muestras, lo que significa que los biólogos celulares pueden estudiar las células vivas sin molestarlas, abriendo nuevas puertas de investigación sobre cómo funcionan estas unidades de vida. El módulo Park NX10 SICM también se puede comprar como una opción para su Park NX10 AFM, lo que permite una fácil transición entre las dos técnicas, la creación de una herramienta aún más amplia para el análisis de muestras
Tres atractivas Microscopías de nano escala en una innovadora plataforma
Entendemos que un investigador de Biología de nano escala, necesita herramientas versátiles, de gran alcance para hacer investigación innovadora eficientemente. Es por eso que hemos creado el Park NX-Bio, que combina microscopía de barrido por conductancia iónica (SICM), un microscopio de fuerzas atómicas True Non-Contact Mode™ (AFM) y un microscopio óptico invertido para obtener una potente imagen.
medida que aumenta la demanda de metrología de fuerza atómica para pantallas planas de mayor tamaño, el cabezal de escaneo de puntas Park NX supera los retos de la nano metrología para muestras de más de 300 mm. El cabezal de escaneo de puntas y la platina con soporte de aire tipo pórtico permiten a Park NX-TSH realizar mediciones precisas de la rugosidad, de la altura de los escalones y de las dimensiones críticas.
Microscopía para la industria
AFM industriales
Aplicaciones
Park Systems está dedicado no sólo al avance de la investigación, sino también de la industria. Por eso nuestros diseñadores han trabajado para construir una línea de AFMS más eficaces para los ingenieros de A. F. y aplicaciones industriales. Permitiendo a los usuarios tomar medidas altamente precisas y completar su trabajo más rápidamente. Estas herramientas pueden mejorar la eficiencia en el trabajo y reducir los errores, llevando a un proceso de desarrollo y producción más rentable y consistente. Park Systems ofrece una gama amplia de AFM para la investigación general y aplicaciones industriales. Diseñados para ser extremadamente versátiles, a la vez que proporcionar la precisión y funcionalidad necesaria para realizar trabajos de alta calidad, nuestra línea de AFM generales ofrece por igual a los investigadores e ingenieros la capacidad de tener resultados extremadamente precisos rápida y fácilmente .
- Análisis de fallos
- Análisis de semiconductores
- Análisis de discos duros
El AFM más innovador para la revisión automatizada de defectos y medición de la rugosidad de superficie
La identificación de defectos de nano escala es un proceso muy largo y tedioso para los ingenieros que trabajan con medios y substratos planos. El Park NX-HDM es un sistema de microscopía de fuerza atómica que acelera el proceso de revisión de defectos por un orden de magnitud mediante la identificación, exploración y análisis automatizado del defecto. El Park NX-HDM se enlaza directamente con una amplia gama de herramientas de inspección óptica, aumentando significativamente el rendimiento de la revisión automática de defectos.
AFM totalmente automatizado para la metrología precisa en línea de agujas en cabezales de discos duros
El Park NX-PTR completamente automáticos en línea es un AFM de solución industrial, orientado, no limitado a, medidas automáticas de la retracción de la aguja lectora, nivel de agujas, y nivel de agujas de HGA. Con escala de precisión sub-nano, repetibilidad y rendimiento, el Park NX-PTR es la herramienta de metrología de elección para los fabricantes de cabezales de HD para mejorar su rendimiento global y producción.
Perfilador de fuerza atómica de bajo ruido y alto rendimiento con revisión automática de defectos
El Park NX-Wafer es el único AFM para fabricantes de obleas con revisión automática de defectos. Esto le da el poder de aumentar el rendimiento de su laboratorio hasta un 1000% al tiempo que garantiza un alto nivel de precisión y control de calidad al escanear las obleas de hasta 300 mm de tamaño.
Innovación y eficiencia para la metrología 3D
Park Systems presentó la revolucionaria serie de Park 3DM, el sistema de AFM completamente automatizado diseñado para medidas de perfiles de imagen de alta resolución de paredes en escalones y mediciones de ángulo crítico. Con el sistema de exploración desacoplado XY y sistema de exploración Z con analizador Z inclinado, se superan los retos de los métodos normal e inclinado para análisis de paredes en escalones. Utilizando nuestro True Non-Contact Mode™, la serie Park 3DM permite mediciones no destructivas de fotoresistencia de superficies suaves empleando puntas con alta relación de aspecto.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA NX10
Park NX10, un microscopio electrónico produce datos en los que puede confiar, replicables y publicables con la máxima resolución nanométrica. Presenta el inigualable modo True Non-Contact TM, el cual prolonga la vida útil de la punta y preserva su muestra al mismo tiempo, sus escáneres independientes basados en flexión para los ejes XY y Z proporcionan una incomparable resolución y precisión . La interfaces se usa de manera sencilla y fácil, el alineamiento del láser, el enfoque automático de la punta y el software de procesamiento le permiten obtener rápidamente resultados publicables y un amplio rango de modos de medición y diseño personalizables.
FUNCIONES INNOVADORAS | PARK NX10
Park Advanced AFM Modes
Los AFM de Park le permite recopilar una amplia variedad de tipos de datos a través de sus diferentes modos de escaneo. Desde el único modo sin contacto True Non-Contact™ que preserva la nitidez de la punta y la integridad de la muestra, hasta la microscopía de fuerza magnética avanzada, Park ofrece los modos más innovadores y precisos en la industria de AFM.
Park SmartScan Modo Automático
SmartScan Auto realiza todas las operaciones necesarias para la creación de imágenes y decide de forma inteligente la calidad de imagen y la velocidad de escaneo óptimas, todo de forma autónoma. SmartScan Auto es posible gracias a las tecnologías patentadas de Park. Eso le ahorra tiempo, dinero y le brinda un mejor resultado final. los microscopios de Park le darán un salto de calidad a su investigación o análisis.
Módulo Park SXM para Park NX10
Park NX10 SICM Module es un microscopio electrónico proporciona imágenes a nanoescala para una amplia gama de aplicaciones, Biología Celular, Química Analítica, Electrofisiología, Neurociencia.
Park Crosstalk Tecnología de Eliminación
Park NX10 es un microscopio electrónico que produce datos confiables, permite replicar y publicar a la resolución nano más alta. Cuenta con el único AFM sin contacto True Non-Contact™ del mundo que prolonga la vida útil de la punta al tiempo que conserva su muestra.
Cuenta con el escáner X Y y Z independiente para una precisión y resolución sin igual.
Soluciones PARK SYSTEMS | NX10 INVESTIGA
Park NX10 Microscopio Fuerza Atómica
Microscopio de fuerza atómica , brinda un preciso escaneo XY gracias a la eliminación de interferencias, precisa una topografía de AFM con detector de bajo nivel de ruido Z, Mayor vida de la punta, mejor resolución y preservación de las muestras, solución AFM completa y extensible, y su ergonomía lo hace fácil de manejar para cualquier usuario.
Park NX10 Caja Acústica 101
Los AFM miden las propiedades a escala nanométrica, por lo que cada pequeño factor puede tener un gran efecto en la precisión, aislando el instrumento del ruido y ayudando a Park AFM a ser el más preciso, fácil de manejar, y sólo pesa 40 kg
Park NX10 Control Ambiental
Proporciona una atmósfera controlada para muestras que son sensibles al oxígeno y al vapor de agua. La atmósfera de la cámara se puede controlar cuidadosamente para determinar la humedad y la concentración de oxígeno.
Imágenes Estándar
- True AFM sin contacto. PinPoint™ AFM.
- Contacto básico AFM.
- Microscopio electrónico Microscopia de Fuerza Lateral (LFM).
- Imágenes de fase.
Propiedades Químicas
- Microscopio de Fuerza Química.
- Microscopia electroquímica (EC-STM y EC-AFM).
- Espectroscopia de distancia de fuerza (FD).
- Imágenes de volumen de fuerza
Propiedades Dieléctricas
- Imágenes de volumen de fuerza
- Dynamic Contact EFM (EFM-DC).
- Microscopia de Fuerza Piezoeléctrica (PFM).
Propiedades Magnéticas
- Microscopio de Fuerza magnética (MFM).
- Sintonizable MFM.
- Espectroscopia Raman mejorada con punta (TERS).
- Asignación actual de fotografías resuelta por tiempo (PCM)
Propiedades Mecánicas
- Microscopios de modulación de fuerza (FMM).
- Nanoindentación.
- Nanolitografía.
Propiedades Termales
- Microscopia térmica de barrido , microscopios (SThM).
Propiedades Termales
- AFM conductivo.
- Espectroscopia IV.
- Escaneo Kelvin Probe Microscopy (SKPM / KPM).
- SKPM con alto voltaje.
- Microscopia de barrido (SCM).
- Escaneo de microscopia de resistencia de dispersión (SSRM).
- Escaneo de microscopia de resistencia de dispersión (SSRM).
- Scanning Tunneling Spectroscopy (STS).
- Asignación actual de fotografías resuelta por tiempo (PCM).