barrido de emisión de campo
barrido de emisión de campo
barrido de emisión de campo
¿Cómo mejora el flujo de trabajo de LaserFIB sus estudios ?
Para los estudios in situ es necesario localizar los ROI en 3D, ablacionar el material mediante una preparación específica y realizar imágenes y análisis en 3D. Añada un láser de femtosegundo a su Crossbeam de ZEISS y benefíciese de una preparación de muestras ultrarrápida.
- Acceda rápidamente a estructuras profundamente enterradas.
- Prepare secciones transversales extremadamente grandes de hasta milímetros de ancho y profundidad.
- Prepare secciones transversales extremadamente grandes de hasta milímetros de ancho y profundidad.
- Realice el trabajo con láser en una cámara específica para evitar la contaminación de su FIB-SEM.
- Encuentre sus ROI ocultos mediante la correlación con conjuntos de datos de microscopía de rayos X previamente adquiridos.
¿Cómo mejora el flujo de trabajo de LaserFIB sus estudios ?
Para los estudios in situ es necesario localizar los ROI en 3D, ablacionar el material mediante una preparación específica y realizar imágenes y análisis en 3D. Añada un láser de femtosegundo a su Crossbeam de ZEISS y benefíciese de una preparación de muestras ultrarrápida.
- Acceda rápidamente a estructuras profundamente enterradas.
- Prepare secciones transversales extremadamente grandes de hasta milímetros de ancho y profundidad.
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- Realice el trabajo con láser en una cámara específica para evitar la contaminación de su FIB-SEM.
- Encuentre sus ROI ocultos mediante la correlación con conjuntos de datos de microscopía de rayos X previamente adquiridos.
¿Cómo mejora el flujo de trabajo de LaserFIB sus estudios ?
Para los estudios in situ es necesario localizar los ROI en 3D, ablacionar el material mediante una preparación específica y realizar imágenes y análisis en 3D. Añada un láser de femtosegundo a su Crossbeam de ZEISS y benefíciese de una preparación de muestras ultrarrápida.
- Acceda rápidamente a estructuras profundamente enterradas.
- Prepare secciones transversales extremadamente grandes de hasta milímetros de ancho y profundidad.
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- Realice el trabajo con láser en una cámara específica para evitar la contaminación de su FIB-SEM.
- Encuentre sus ROI ocultos mediante la correlación con conjuntos de datos de microscopía de rayos X previamente adquiridos.
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada
Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analitica avanzada. Zeiss Sigma 300 ofrece exelencia en precio y rendimiento. Realice sus ánalisis elementales de forma rápida y cómoda con la mejor geometría EDS de ZEISS Sigma 500. Cuente con resultados precisos y reproducibles, a partir de cualquier muestra y en todo momento.
Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analitica avanzada. Zeiss Sigma 300 ofrece exelencia en precio y rendimiento. Realice sus ánalisis elementales de forma rápida y cómoda con la mejor geometría EDS de ZEISS Sigma 500. Cuente con resultados precisos y reproducibles, a partir de cualquier muestra y en todo momento.
Su microscopio electrónico de barrido ZEISS SIGMA para obtener imágenes de alta calidad y microscopía analitica avanzada. Zeiss Sigma 300 ofrece exelencia en precio y rendimiento. Realice sus ánalisis elementales de forma rápida y cómoda con la mejor geometría EDS de ZEISS Sigma 500. Cuente con resultados precisos y reproducibles, a partir de cualquier muestra y en todo momento.
Detección flexible para imágenes claras
Adapte Sigma a sus necesidades utilizando la última tecnología de detección y caracterice todas sus muestras.
Caracterice la composición, la cristalografía y la topografía de la superficie con el detector de retrodispersión anular (aBSD). Ofrece excelentes imágenes de bajo kV en todas las condiciones de vacío. Benefíciese de una sensibilidad mejorada, una mayor relación señal/ruido y más velocidad.
Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Benefíciese de los detectores C2D y VPSE de Sigma en el modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede esperar imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste.
Automatice y acelere su flujo de trabajo
Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Benefíciese del rápido tiempo de obtención de imágenes y ahorre tiempo de formación, especialmente en un entorno multiusuario.
En primer lugar, navegue por su muestra y establezca las condiciones óptimas de captura de imágenes.
A continuación, adquiera automáticamente imágenes de múltiples muestras utilizando regiones de interés (ROI). Finalmente, utilice el último paso del flujo de trabajo para la visualización contextual de sus resultados.
Finalmente, SmartSEM Touch recoge y presenta sus datos como un mapa interactivo para que pueda entender su muestra completamente.
Realice microscopía analítica avanzada
Combine la microscopía electrónica de barrido y el análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles al haz. Obtenga datos analíticos con la mitad de corriente de sonda y el doble de velocidad. Consiga un análisis completo y sin sombras en su FE-SEM. Benefíciese del uso de una corta distancia de trabajo analítico de 8,5 mm y de un ángulo de despegue de 35°.
Detección flexible para imágenes claras
Adapte Sigma a sus necesidades utilizando la última tecnología de detección y caracterice todas sus muestras.
Caracterice la composición, la cristalografía y la topografía de la superficie con el detector de retrodispersión anular (aBSD). Ofrece excelentes imágenes de bajo kV en todas las condiciones de vacío. Benefíciese de una sensibilidad mejorada, una mayor relación señal/ruido y más velocidad.
Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Benefíciese de los detectores C2D y VPSE de Sigma en el modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede esperar imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste.
Automatice y acelere su flujo de trabajo
Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Benefíciese del rápido tiempo de obtención de imágenes y ahorre tiempo de formación, especialmente en un entorno multiusuario.
En primer lugar, navegue por su muestra y establezca las condiciones óptimas de captura de imágenes.
A continuación, adquiera automáticamente imágenes de múltiples muestras utilizando regiones de interés (ROI). Finalmente, utilice el último paso del flujo de trabajo para la visualización contextual de sus resultados.
Finalmente, SmartSEM Touch recoge y presenta sus datos como un mapa interactivo para que pueda entender su muestra completamente.
Realice microscopía analítica avanzada
Combine la microscopía electrónica de barrido y el análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles al haz. Obtenga datos analíticos con la mitad de corriente de sonda y el doble de velocidad. Consiga un análisis completo y sin sombras en su FE-SEM. Benefíciese del uso de una corta distancia de trabajo analítico de 8,5 mm y de un ángulo de despegue de 35°.
Detección flexible para imágenes claras
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Caracterice la composición, la cristalografía y la topografía de la superficie con el detector de retrodispersión anular (aBSD). Ofrece excelentes imágenes de bajo kV en todas las condiciones de vacío. Benefíciese de una sensibilidad mejorada, una mayor relación señal/ruido y más velocidad.
Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Benefíciese de los detectores C2D y VPSE de Sigma en el modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede esperar imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste.
Automatice y acelere su flujo de trabajo
Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Benefíciese del rápido tiempo de obtención de imágenes y ahorre tiempo de formación, especialmente en un entorno multiusuario.
En primer lugar, navegue por su muestra y establezca las condiciones óptimas de captura de imágenes.
A continuación, adquiera automáticamente imágenes de múltiples muestras utilizando regiones de interés (ROI). Finalmente, utilice el último paso del flujo de trabajo para la visualización contextual de sus resultados.
Finalmente, SmartSEM Touch recoge y presenta sus datos como un mapa interactivo para que pueda entender su muestra completamente.
Realice microscopía analítica avanzada
Combine la microscopía electrónica de barrido y el análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles al haz. Obtenga datos analíticos con la mitad de corriente de sonda y el doble de velocidad. Consiga un análisis completo y sin sombras en su FE-SEM. Benefíciese del uso de una corta distancia de trabajo analítico de 8,5 mm y de un ángulo de despegue de 35°.
tecnología
tecnología
tecnología
Basado en la probada tecnología Gemini
El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.
El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.
La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.
Detección flexible para obtener imágenes claras
El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.
El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.
La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.
Basado en la probada tecnología Gemini
El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.
El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.
La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.
Detección flexible para obtener imágenes claras
El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.
El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.
La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.
Basado en la probada tecnología Gemini
El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.
El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.
La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.
Detección flexible para obtener imágenes claras
El diseño de la lente del objetivo Gemini combina los campos electrostáticos y magnéticos para maximizar el rendimiento óptico y reducir al mínimo las influencias del campo en la muestra. Esto permite obtener imágenes excelentes, incluso en muestras difíciles, como los materiales magnéticos.
El concepto de detección Gemini Inlens garantiza una detección eficaz de la señal mediante la detección de electrones secundarios (SE) y/o retrodispersados (BSE), lo que minimiza el tiempo de obtención de imágenes.
La tecnología de refuerzo del haz Gemini garantiza tamaños de sonda pequeños y una elevada relación señal/ruido.
APLICACIONES
Revele un gran detalle de la superficie en la inspección de defectos superficiales de microlentes no conductoras, incluso a 300 V, con el detector ETSE.
Fibras con nanopartículas de plata incrustadas, procedentes de apósitos antimicrobianos para el cuidado de heridas. 1 kV, izquierda: Inlens Duo SE, derecha: Inlens Duo BSE, ancho de imagen 90 µm
El carbonato de lantano es un aglutinante de fosfatos utilizado como agente terapéutico oral para pacientes en diálisis, con imágenes a 1 kV con Inlens Duo BSE.
Granos de platino que muestran los planos de deslizamiento de los límites de los granos, fotografiados a 4 kV con detector AsB, anchura de la imagen 69 µm.
Cristales 2D de MoS<sub>2</sub><br /> cultivados mediante CVD sobre un sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales de MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas simples (rojo), ancho de imagen 32 µm.
Mezcla de polímeros de poliestireno (PS) y polimetilmetacrilato (PMMA): Estos dos polímeros forman una mezcla inmiscible. Las estructuras de dominio se visualizan claramente donde el PS es azul y el PMMA es rojo, ancho de imagen 288 µm.
La delicada estructura abierta de un radiolario es captada sin esfuerzo por el detector ETSE a 1 kV bajo alto vacío, ancho de imagen 183 µm.
Esporas de hongos fotografiadas a 1 kV en alto vacío. Estas estructuras delicadas y frágiles se pueden fotografiar fácilmente con Sigma 500 a bajo voltaje.
Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.
Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.
Muestra de roca fotografiada con el YAG-BSD, que proporciona imágenes a gran velocidad debido al rendimiento en la conducción de la luz del cristal YAG, fotografiado a 20 kV.
Mineral de sulfuro de níquel. Mapa mineralógico EDS.
Mineralogía del hierro: Identificación por Raman de minerales de hierro ((imagen RISE/SEM superpuesta, anchura de la imagen 66 µm).
Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales (espectro Raman, derecha: la hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goethita es azul claro).
Las nanopartículas de dióxido de titanio no conductoras que se utilizan como pigmentos y agentes opacificantes pueden obtenerse fácilmente a 40 Pa en modo VP con el C2D, con un ancho de imagen de 10 µm.
Partículas de óxido de hierro de 25 - 50 nm obtenidas con el detector aSTEM en modo de campo oscuro a 20 kV.
Muestra de aleación superconductora fotografiada a 1 kV con el aBSD. (Barra de escala 20 µm).
APLICACIONES
Revele un gran detalle de la superficie en la inspección de defectos superficiales de microlentes no conductoras, incluso a 300 V, con el detector ETSE.
Fibras con nanopartículas de plata incrustadas, procedentes de apósitos antimicrobianos para el cuidado de heridas. 1 kV, izquierda: Inlens Duo SE, derecha: Inlens Duo BSE, ancho de imagen 90 µm
El carbonato de lantano es un aglutinante de fosfatos utilizado como agente terapéutico oral para pacientes en diálisis, con imágenes a 1 kV con Inlens Duo BSE.
Granos de platino que muestran los planos de deslizamiento de los límites de los granos, fotografiados a 4 kV con detector AsB, anchura de la imagen 69 µm.
Cristales 2D de MoS<sub>2</sub><br /> cultivados mediante CVD sobre un sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales de MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas simples (rojo), ancho de imagen 32 µm.
Mezcla de polímeros de poliestireno (PS) y polimetilmetacrilato (PMMA): Estos dos polímeros forman una mezcla inmiscible. Las estructuras de dominio se visualizan claramente donde el PS es azul y el PMMA es rojo, ancho de imagen 288 µm.
La delicada estructura abierta de un radiolario es captada sin esfuerzo por el detector ETSE a 1 kV bajo alto vacío, ancho de imagen 183 µm.
Esporas de hongos fotografiadas a 1 kV en alto vacío. Estas estructuras delicadas y frágiles se pueden fotografiar fácilmente con Sigma 500 a bajo voltaje.
Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.
Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.
Muestra de roca fotografiada con el YAG-BSD, que proporciona imágenes a gran velocidad debido al rendimiento en la conducción de la luz del cristal YAG, fotografiado a 20 kV.
Mineral de sulfuro de níquel. Mapa mineralógico EDS.
Mineralogía del hierro: Identificación por Raman de minerales de hierro ((imagen RISE/SEM superpuesta, anchura de la imagen 66 µm).
Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales (espectro Raman, derecha: la hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goethita es azul claro).
Las nanopartículas de dióxido de titanio no conductoras que se utilizan como pigmentos y agentes opacificantes pueden obtenerse fácilmente a 40 Pa en modo VP con el C2D, con un ancho de imagen de 10 µm.
Partículas de óxido de hierro de 25 - 50 nm obtenidas con el detector aSTEM en modo de campo oscuro a 20 kV.
Muestra de aleación superconductora fotografiada a 1 kV con el aBSD. (Barra de escala 20 µm).
APLICACIONES
Revele un gran detalle de la superficie en la inspección de defectos superficiales de microlentes no conductoras, incluso a 300 V, con el detector ETSE.
Fibras con nanopartículas de plata incrustadas, procedentes de apósitos antimicrobianos para el cuidado de heridas. 1 kV, izquierda: Inlens Duo SE, derecha: Inlens Duo BSE, ancho de imagen 90 µm
El carbonato de lantano es un aglutinante de fosfatos utilizado como agente terapéutico oral para pacientes en diálisis, con imágenes a 1 kV con Inlens Duo BSE.
Granos de platino que muestran los planos de deslizamiento de los límites de los granos, fotografiados a 4 kV con detector AsB, anchura de la imagen 69 µm.
Cristales 2D de MoS<sub>2</sub><br /> cultivados mediante CVD sobre un sustrato de Si/SiO2: La imagen RISE muestra las arrugas y las partes superpuestas de los cristales de MoS2 (verde), las multicapas (azul) y las capas simples (rojo), ancho de imagen 32 µm.
Mezcla de polímeros de poliestireno (PS) y polimetilmetacrilato (PMMA): Estos dos polímeros forman una mezcla inmiscible. Las estructuras de dominio se visualizan claramente donde el PS es azul y el PMMA es rojo, ancho de imagen 288 µm.
La delicada estructura abierta de un radiolario es captada sin esfuerzo por el detector ETSE a 1 kV bajo alto vacío, ancho de imagen 183 µm.
Esporas de hongos fotografiadas a 1 kV en alto vacío. Estas estructuras delicadas y frágiles se pueden fotografiar fácilmente con Sigma 500 a bajo voltaje.
Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.
Superficie de la perla: Esta imagen RISE superpuesta a una imagen SEM permite diferenciar entre las fases de aragonita y vaterita, ancho de imagen 154 µm . Ambos son polimorfos de CaCO3 que están presentes en las perlas lechosas.
Muestra de roca fotografiada con el YAG-BSD, que proporciona imágenes a gran velocidad debido al rendimiento en la conducción de la luz del cristal YAG, fotografiado a 20 kV.
Mineral de sulfuro de níquel. Mapa mineralógico EDS.
Mineralogía del hierro: Identificación por Raman de minerales de hierro ((imagen RISE/SEM superpuesta, anchura de la imagen 66 µm).
Las diferencias en los espectros de la hematita se atribuyen a las diferentes orientaciones de los cristales (espectro Raman, derecha: la hematita es roja, azul, verde, naranja y rosa; la goethita es azul claro).
Las nanopartículas de dióxido de titanio no conductoras que se utilizan como pigmentos y agentes opacificantes pueden obtenerse fácilmente a 40 Pa en modo VP con el C2D, con un ancho de imagen de 10 µm.
Partículas de óxido de hierro de 25 - 50 nm obtenidas con el detector aSTEM en modo de campo oscuro a 20 kV.
Muestra de aleación superconductora fotografiada a 1 kV con el aBSD. (Barra de escala 20 µm).