Microscopia Correlativa

Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) escanean una muestra con un haz de electrones enfocado y entregan imágenes con información sobre la topografía y la composición de las muestras. Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopia electrónica de barrido de alto rendimiento (microscopios con fuentes de emisión termoiónica LaB6 y W) con una experiencia intuitiva y fácil de usar que atrae tanto a los microscopistas entrenados como a los nuevos usuarios. Con su amplia gama de opciones disponibles, EVO se puede adaptar a sus necesidades, ya sea en ciencias de la vida, ciencia de los materiales o análisis de fallas y aseguramiento de la calidad industrial de rutina.

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