NX10 Fuerza Atómica Investigación Nanotecnológica Innovadora

Park NX10 produce datos en los que puede confiar, replicables y publicables con la máxima resolución nanométrica. Presenta el inigualable modo True Non-Contact TM, el cual prolonga la vida útil de la punta y preserva su muestra al mismo tiempo, sus escáneres independientes basados en flexión para los ejes XY y Z proporcionan una incomparable resolución y precisión. La interfaces se usa de manera sencilla y fácil, el alineamiento del láser, el enfoque automático de la punta y el software de procesamiento le permiten obtener rápidamente resultados publicables y un amplio rango de modos de medición y diseño personalizables.

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FUNCIONES INNOVADORAS | PARK NX10

La primera elección para la investigación nanotecnológica

Park Advanced AFM Modes

Los AFM de parque cuentan con una amplia gama de modos de escaneo para que pueda recopilar una amplia variedad de tipos de datos de manera precisa y eficiente. Desde el único modo sin contacto real del mundo que preserva la nitidez de la punta y la integridad de la muestra hasta la microscopía de fuerza magnética avanzada, Park ofrece los modos más innovadores y precisos en la industria de AFM.

Park SmartScan Modo Automático

SmartScan Auto realiza todas las operaciones necesarias para la creación de imágenes y decide de forma inteligente la calidad de imagen y la velocidad de escaneo óptimas, todo de forma autónoma. SmartScan Auto es posible gracias a las tecnologías de habilitación patentadas de Park. Eso le ahorra tiempo, dinero y un mejor resultado final.

Módulo Park SXM para Park NX10

Park NX10 SICM Module proporciona imágenes a nanoescala para una amplia gama de aplicaciones, Biología Celular, Química Analítica, Electrofisiología, Neurociencia.

Park Crosstalk Tecnología de Eliminación

Park NX10 produce datos en los que puede confiar, replicar y publicar a la resolución nano más alta. Cuenta con el único AFM sin contacto del mundo que prolonga la vida útil de la punta al tiempo que conserva su muestra, y el escáner XY y Z independiente basado en flexiones para una precisión y resolución sin igual.

MÁS DE PARK SYSTEMS | NX10 INVESTIGA

Otros productos con la tecnología Nano

Park NX10 Microscopio Fuerza Atómica

Preciso escaneo XY gracias a la eliminación de interferencias, precisa una topografía de AFM con detector de bajo nivel de ruido Z, Mayor vida de la punta, mejor resolución y preservación de las muestras, solución AFM completa y extensible, y su ergonomía lo hace fácil de manejar para cualquier usuario.

Park NX10 Caja Acústica 101

Los AFM miden las propiedades a escala nanométrica, por lo que cada pequeño factor puede tener un gran efecto en la precisión, aislando el instrumento del ruido y ayudando a Park AFM a ser el más preciso, fácil de manejar, y sólo pesa 40 kg.

Park NX10 Control Ambiental

Proporciona una atmósfera controlada para muestras que son sensibles al oxígeno y al vapor de agua. La atmósfera de la cámara se puede controlar cuidadosamente para determinar la humedad y la concentración de oxígeno.

MÁS DE PARK SYSTEMS | NX10 INVESTIGACIÓN

Otros productos con la tecnología Nano

Imágenes Estándar

  • True AFM sin contacto.
  • PinPoint™ AFM.
  • Contacto básico AFM.
  • Microscopia de Fuerza Lateral (LFM).
  • Imágenes de fase.

Propiedades Químicas*

  • Microscopia de Fuerza Química.
  • Microscopia electroquímica (EC-STM y EC-AFM).

Propiedades Químicas*

  • Espectroscopia de distancia de fuerza (FD).
  • Imágenes de volumen de fuerza.

Propiedades Eléctricas*

  • AFM conductivo.
  • Espectroscopia IV.
  • Escaneo Kelvin Probe Microscopy (SKPM / KPM).
  • SKPM con alto voltaje.
  • Microscopia de barrido (SCM).
  • Escaneo de microscopia de resistencia de dispersión (SSRM).
  • Microscopia de túnel de escaneo (STM).
  • Scanning Tunneling Spectroscopy (STS).
  • Asignación actual de fotografías resuelta por tiempo (PCM).

Propiedades Magnéticas*

  • Microscopia de Fuerza magnética (MFM).
  • Sintonizable MFM.

Propiedades Magnéticas*

  • Espectroscopia Raman mejorada con punta (TERS).
  • Asignación actual de fotografías resuelta por tiempo (PCM).

Propiedades Dieléctricas / Piezoeléctricas*

  • Microscopia de Fuerza Electrostática (EFM).
  • Dynamic Contact EFM (EFM-DC).
  • Microscopia de Fuerza Piezoeléctrica (PFM).

Propiedades Mecánicas*

  • Microscopia de modulación de fuerza (FMM).
  • Nanoindentación.
  • Nanolitografía.

Propiedades Termales*

  • Microscopia térmica de barrido (SThM).

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